如何判斷碳化硅超細(xì)微粉的硬度和切割性
通過(guò)這段時(shí)間的了解,相信大家對(duì)碳化硅超細(xì)微粉并不陌生,但是這些內(nèi)容對(duì)于想了解更多這款產(chǎn)品的客戶來(lái)說(shuō)還是不夠的。下面小編將與大家分享關(guān)于碳化硅超細(xì)微粉檢測(cè)的知識(shí),希望能引起大家的關(guān)注。
如果要判斷碳化硅超細(xì)微粉的硬度和切割性,需要進(jìn)行相關(guān)測(cè)試。測(cè)試方法如下:
1.原子吸收這種檢測(cè)方法可以檢測(cè)硅的含量,判斷碳化硅硬度檢測(cè)值相對(duì)準(zhǔn)確。
2.電阻式顆粒分析儀采用電阻式顆粒分析儀測(cè)量碳化硅,的顆粒尺寸,可以有效判斷碳化硅的切削性能,檢測(cè)效率高。
3.顆粒分析儀可以準(zhǔn)確測(cè)量顆粒形狀系數(shù),是檢測(cè)碳化硅超細(xì)微粉切割效率和質(zhì)量的有效方法。
碳化硅超細(xì)微粉中硅的含量決定其硬度,碳化硅的粒徑大小對(duì)線切割影響很大,但重要的是碳化硅的顆粒形狀。碳化硅是以石油焦和優(yōu)、優(yōu)等硅石為主要原料,添加食鹽作為添加劑,通過(guò)電阻爐高溫冶煉而成。其硬度介于剛玉和金剛石之間,機(jī)械強(qiáng)度高于剛玉。
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